日本napson可定制手持式薄層電阻測(cè)量?jī)x
產(chǎn)品名稱(chēng):DUORES
便于攜帶和測(cè)量的手持式薄層電阻測(cè)量裝置:DUORES
根據(jù)測(cè)量目標(biāo)更換和使用兩種類(lèi)型的探頭(無(wú)損型和接觸型)。
•*1臺(tái)可以替換和使用兩種類(lèi)型的探頭(無(wú)損型和接觸型)的便攜式座椅電阻測(cè)量裝置 •
只需放置/敲擊探頭即可自動(dòng)進(jìn)行測(cè)量
•電池連續(xù)工作時(shí)間:24小時(shí)(*電池)使用時(shí))
•顯示的數(shù)據(jù)數(shù)量:多100(*從醉新數(shù)據(jù)顯示)
•存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)數(shù)量:多50,000(*軟件顯示屏)
•測(cè)量數(shù)據(jù)傳輸功能:USB-Mini
•顯示:3種類(lèi)型的顯示單元(Ω/□,S /□,n / m [金屬膜厚度轉(zhuǎn)換]), 4位浮點(diǎn)少數(shù)點(diǎn)(0.000至9999)
*我們僅出售主體+非破壞性探頭,并且僅出售主體+接觸探頭。
測(cè)量目標(biāo)
薄膜,玻璃,紙材料等
通常,可以在測(cè)量范圍內(nèi)測(cè)量任何樣品。
•薄膜材料(ITO,TCO等)
•低電子玻璃
•碳納米管,石墨烯材料
•金屬材料(納米線(xiàn),網(wǎng)格,網(wǎng)眼)
•其他
測(cè)量尺寸
不論尺寸和厚度如何均可測(cè)量
(*大于每個(gè)探頭的測(cè)量點(diǎn)尺寸)
<測(cè)量點(diǎn)>
?無(wú)損探棒(渦電流型):φ25mm
?接觸式探頭(4種探頭類(lèi)型):9毫米
測(cè)量范圍
?無(wú)損探棒(渦電流法):0.5 -200Ω/ sq
?接觸探棒(4探針?lè)ǎ?.1 -4000Ω/ sq
日本napson可定制手持式薄層電阻測(cè)量?jī)x
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